TTE148

Control estructural en la generación de caída de rocas…

Figura 14. Estructura de la Sepiolita proyectada en el plano (001). Extraído de Besoain, 1985.

2.4.3. DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Una de las técnicas más usadas actualmente para el análisis de minerales de arcilla,

corresponde a la difracción de rayos X (XRD, por sus siglas en inglés), que permite la

identificación más precisa y proporciona datos muy representativos, ya que cada medición

representa una media de millones de partículas de minerales de arcilla (Srodon, 2006). Los

minerales de arcilla se identifican con mayor frecuencia mediante la reflexión del polvo de

roca, tanto en preparaciones orientadas como de preparaciones aleatorias. La técnica consiste

en bombardear la muestra a estudiar con un haz de rayos x de longitud de onda λ, variando

el ángulo de incidencia de los rayos en la muestra, θ. Los rayos x son difractados de manera

constructiva por la estructura de la muestra si es que se cumple la Ley de Bragg, que

corresponde a “n · λ = 2 · d · sen(θ)”, en donde n es un entero, λ es la longitud de onda y d

es la distancia interplanar de la estructura de la muestra. (Maximov, 2008).

El receptor del difractómetro capta un peak energético. El conjunto de estos peaks es

conocido como diagrama de difracción, y es único para cada estructura cristalina. De esta

forma, por comparación con diagramas tabulados se puede determinar las fases cristalinas

presentes en la muestra (Maxivov, 2008).

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