TTE148

Control estructural en la generación de caída de rocas…

4.1.4. DIFRACCIÓN DE RAYOS X (XRD)

Se hicieron análisis de XRD en el Laboratorio de Cristalografía Aplicada de la

Universidad Católica de Temuco, mediante el uso del equipo “ Rigaku SmartLab : PhotonMax

high-flux 9 kW rotating anode X-ray source coupled with a HyPix-3000 high-energy

resolution 2D ” a muestras correspondientes a salbandas de falla, con el fin de identificar la

mineralogía de arcilla. Las muestras analizadas fueron previamente secadas a 60°C por 24

horas en un horno de secado (Figura 18) propiedad de la Universidad de la Frontera, con el

fin de evitar transformaciones mineralógicas al aplicar altas temperaturas (Martin et al .,

2005; Ledezma, 2020).

Figura 18. Horno de secado programado a 60°C y muestras llevadas a secar.

Posterior al secado (Figura 19a), las muestras fueron molidas mediante el uso de un

mortero de ágata (Figura 19b) hasta reducirla a un tamaño de muestra limo-arcilla,

almacenándolo de tal manera que se eviten contaminaciones (Figura 19c), para

posteriormente analizar 1 gramo de muestra en el difractor de rayos x, mediante el uso de

placas contenedoras para soportar la muestra.

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