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En general, en el ámbito de las remociones en masa, identificar minerales de arcilla puede ser
un factor importante al momento de definir las causantes del colapso de un talud; por ejemplo,
Kirk et al. (1997) demostraron que discontinuidades rellenas de caolinita influenciaron los
deslizamientos de tierra inducidos por lluvias en Hong Kong, por lo que podría ser de igual
forma con sus polimorfos nacrita y dickita. La illita propicia movimientos en masa
representados fundamentalmente por flujos superficiales y deslizamientos (Capra et al., 2003).
Jian et al., (2009) demostraron que, en el embalse de las Tres Gargantas, en China, se han
producido muchos desprendimientos de rocas traslacionales de suave inclinación los cuales
por medio la difracción de rayos X y de rayos infrarrojos mostraron que los principales
componentes minerales de las zonas de deslizamiento son montmorillonita, illita, feldespato
y cuarzo. Las pruebas de laboratorio indican que los suelos de la zona de deslizamiento son
arcillas limosas, de potencial de hinchamiento medio, cuya resistencia al cizallamiento
disminuye significativamente a medida que la zona de deslizamiento atrae agua y se satura. Es
por esto que la mineralogía, especialmente las arcillas, son un factor condicionante ante la
generación de remociones en masa.
2.5 DIFRACCIÓN DE RAYOS X
La difracción de rayos X (XRD) permite la rápida identificación de materiales particulados,
arcillas y otros minerales. Proporciona información estructural, como la composición química,
la estructura cristalina, el tamaño de los cristales, la deformación, la orientación preferida y el
espesor de las capas. Por lo tanto, esta técnica es utilizada para analizar una amplia gama de
materiales, desde polvos y sólidos hasta las películas delgadas y nanomateriales, por lo que es
una herramienta útil en este trabajo.
La información obtenida de la interacción entre los rayos X y los cristales se basa en la
difracción producida por un conjunto de átomos en un arreglo ordenado. Se origina por el
choque de los fotones incidentes contra los electrones firmemente ligados a los átomos. Cada
átomo irradiado del material dispersa de manera individual en todas las direcciones. Dado que
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