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conocer la composición mineralógica mediante diversas técnicas, como lo es la Difracción

de Rayos X ( X-Ray Diffraction o XRD) que es un método utilizado principalmente para

detectar la presencia de distintas fases cristalinas presentes en una muestra y otros rasgos

microestructurales. Está basada en las interferencias ópticas que se producen cuando una

radiación monocromática atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda

de la radiación. Los rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo orden que

las distancias interatómicas de los componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados

sobre la muestra a analizar, los rayos X se difractan con ángulos que dependen de las

distancias interatómicas (Figura 18; Cerquera et al., 2017).

Figura 18. Esquema del funcionamiento de un difractor. Extraído de Maximov, 2008

El principio básico de funcionamiento de esta técnica consiste en que los rayos x son

difractados de manera constructiva por la estructura de la muestra si es que se cumple la Ley

de Bragg:

n · λ = 2 · d · sen(θ)

Donde:

n: es un entero

λ: es la longitud de onda

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