TTE38

d: es la distancia interplanar de la estructura de la muestra

θ: el ángulo de incidencia de los rayos x

Los rayos difractados al interferir constructivamente, el receptor del difractómetro capta un

peak energético. El conjunto de estos peaks es conocido como diagrama de difracción, y es

único para cada estructura cristalina. De esta forma, por comparación con diagramas

tabulados se puede determinar las fases cristalinas presentes en la muestra. Además de las

fases presentes, el análisis XRD permite conocer otros rasgos microestructurales, tales como

tamaño de cristalita, microdeformaciones, fallas de apilamiento, densidad de dislocaciones y

otros defectos cristalinos (Maximov, 2008).

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